资产编号 |
S20162879 |
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仪器名称 |
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英文名称 |
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规格/型号
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SE/BSE/EDS/Phenom XL |
生产厂商 |
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国别 |
中国 |
所属单位 |
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放置地点 |
机械制造实验室(0001001002) |
使用日期 |
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电子邮箱 |
JLFan2011@163.com |
性能指标 |
(1) 具有二次电子(SE)、背散射(BSE)两种成像模式,最高放大10万倍;
(2) 具有能谱分析功能(EDS),可分析元素B(5)-Sm(95);
(3) 表面3D粗糙度重构。
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主要应用 |
(1) 试样组织观察;
(2) 样品表面形貌快速检测;
(3) 样品成分EDX能谱分析。
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样品要求 |
(1)不含水分;(2) 无可移动颗粒物;(3)不含可挥发物质;
(4) 无磁性;(5) 无油渍;(6). 试样尺寸不大于5×5×2cm(长、宽、高)
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仪器说明 |
该仪器能够应用于材料科学领域,可进行金属、陶瓷、高分子等材料的微观组织、表面形貌、断口形貌观察;能够实现二次电子(SE)/背散射电子(BSE)成像。具有能谱分析(EDS)功能,可在观察形貌的同时,进行成分的定点、线、面分布定量成分分析。
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学习资料 |
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