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性能指标 |
2.1 X射线光源与光管
★2.1.1 X射线发生器：输出功率不小于3kW，额定电压不小于60kV，额定电流不小于60mA；
2.1.2 长寿命陶瓷X射线光管：Cu靶陶瓷光管，标准尺寸设计；电流电压稳定度：优于?0.005% (外电压波动10%时)；
2.1.3光管功率2.2kW；光管焦斑优于0.4x12mm2；
2.1.4 X射线防护：X射线防护：安全连锁机构、剂量优于国标，辐射量小于1uSv/h。
2.2 测角仪
2.2.1扫描方式：Theta/Theta立式测角仪；
2.2.2 2 θ转动范围：-110～168°（标准样品台）；
2.2.3测角仪半径：≥250mm，测角圆直径可连续改变；
★2.2.4最小步长：0.0001°?，角度重现性：0.0001°?。
2.3 探测器
2.3.1能量色散型阵列探测器；
2.3.2子探测器个数：≥2880个，保证每个子通道完好，随机带保证书，支持固定模式扫描以及原位分析，完全免维护设计。
2.3.3最大计数：≥1x109cps，线性范围：≥4x107cps，背景：<0.1cps
2.3.4能量分辨率：8.5% 完全能够分辨Ka, Kb射线，并去铜靶测试铁钴镍样品产生的荧光。探测器本身能量分辨率，而无需加单色器
★2.3.5 提供的阵列探测必须适合小角和广角测试，最低0.3度起测。
2.3.6可采用零维模式（点探测器），一维模式（阵列探测器），二维模式（面探测器），测薄膜由聚焦光路到平行光路不需要切换探测器，软件控制实现0维模式，并且保证重现性。
2.3.7 验收精度：国际标准样品NIST 1976刚玉标样现场检测， 全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度（20度到140度）。
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