资产编号 |
S20150623 |
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仪器名称 |
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英文名称 |
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规格/型号
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MultiMode8/MultiMode8 |
生产厂商 |
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国别 |
美国 |
所属单位 |
电气信息工程学院>>西二楼308 |
放置地点 |
西二楼308(西二楼308) |
使用日期 |
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电子邮箱 |
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性能指标 |
扫描探针显微镜的横向分辨率约1nm到5nm;扫描探针显微镜的J型扫描器的扫描范围是125μm×125μm×5μm;E型扫描器的标称扫描范围是10μm×10μm×2.5μm。
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主要应用 |
Multimode 8扫描探针显微镜可以实现全面的SPM表面表征技术,包括轻敲模式、接触模式、智能成像模式、横向力术模式、相位成像模式、电场力显微术、磁场力显微术、力曲线和力阵列测量等。
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样品要求 |
原子力显微镜研究对象可以是有机固体、聚合物以及生物大分子等,试样的厚度,包括试样台的厚度,最大为10 mm。样品的载体,包括云母片、玻璃片、石墨、抛光硅片、二氧化硅和某些生物膜等
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仪器说明 |
实验时必须是先打开计算机主机,再打开控制器;结束实验时先关控制器再关计算机主机;不能用U盘,只能用刻录盘导出文件;
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学习资料 |
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