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资产编号 |
S20053954 |
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仪器名称 |
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英文名称 |
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规格/型号
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RQ644EII/RQ644EII |
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生产厂商 |
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国别 |
瑞典 |
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所属单位 |
电气信息工程学院>>西二楼311 |
放置地点 |
西二楼311(西二楼311) |
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使用日期 |
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电子邮箱 |
0 |
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性能指标 |
精度： +/- 0.3 mm
最小步距： 1 mm
电源电压： 230V/110V，-15%，+10%
电源频率： 50Hz/60Hz，+/- 2Hz
功率损耗： <25VA
静态功率损耗： <20VA
环境温度： +10°C到+35°C
湿度： 20%到80%
通信： RS-232
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主要应用 |
EMC扫描仪可以测量电子元件、电缆、PCB和整机产品的电磁辐射情况。
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样品要求 |
无特殊要求
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仪器说明 |
系统包括一个X-Y-Z三维扫描台，一个带有近场探头的频谱分析仪，一个和频谱分析仪通信用的GPIB卡和一个带有常用软件的个人计算机。在测量过程中，扫描台将近场探头移动到被测物上的预先设定的测量点上。在每一个测量点，探头的位置和辐射强度值被存储在计算机中。当测量完成后，测量结果可以被生成不同类型的报告。
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| 学习资料 |
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