资产编号	S20053356
仪器名称	扫描探针显微镜  状态【在用】
英文名称
规格/型号	JSM-6490LV/JSM-6490LV
生产厂商
国别	美国
所属单位	材料与化学工程学院>>化工楼110	放置地点	化工楼110(化工楼110)
使用日期		电子邮箱	0
性能指标	1.样品尺寸: x,y轴>200 mm, z轴 > 25 mm； 2.扫描非线性：<1.5%； 3.x,y轴扫描>90μm，最高分辨率优于0.3nm； 4.z轴扫描> 6μm，最高分辨率优于0.05nm； 5.可采用轻敲模式和接触模式测定； 6.变温测定范围：0～250℃。
主要应用	用于观察金属、非金属、生物、半导体等材料样品表面粗糙度及微观形貌；观察样品表面的物质相图；观察样品表面镀膜厚膜层的微观结构测定样品表面物质结构以 及样品的物理特性（静电、磁性及机械性能等）；观察生物物质的微观形貌。
样品要求	样品要求干燥
仪器说明
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