|
资产编号 |
S20101300 |
 |
|
仪器名称 |
|
|
英文名称 |
|
|
规格/型号
|
JSM-7001F/JSM-7001F |
|
生产厂商 |
|
|
国别 |
日本 |
|
所属单位 |
材料与化学工程学院>>化工楼115 |
放置地点 |
化工楼115(化工楼115) |
|
使用日期 |
|
电子邮箱 |
|
|
性能指标 |
分辨率：1.2nm（加速电压为30kV时）；3.0nm（加速电压为1kV时）。
加速电压：0.5kV-30kV。
放大倍数：×10-×1000000。
成像模式：二次电子像、背散射电子像。
|
|
主要应用 |
对材料微观组织、表面形貌、断口等的观察分析，广泛应用于生物学、医学、金属材料、高分子材料分析等。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征，同时配有电子背散射衍射分析系统，可在观察微观形貌的同时，进行微区成分的定点分析、线、面分析，微区物相晶体结构、晶体取向、取向分析等的分析。
|
|
样品要求 |
样品必须为固体，并经充分干燥。
需提供样品大致尺寸形貌等信息。
需提供样品导电特性信息。
分散在液体中的样品需要提前告知，可协助处理试样
|
|
仪器说明 |
|
| 学习资料 |
|