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资产编号 |
S20152320 |
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仪器名称 |
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英文名称 |
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规格/型号
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ESCALAB 250Xi/ESCALAB 250Xi |
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生产厂商 |
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国别 |
美国 |
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所属单位 |
材料与化学工程学院>>化工楼113 |
放置地点 |
化工楼113(化工楼113) |
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使用日期 |
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电子邮箱 |
0 |
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性能指标 |
1.标配XPS全谱/窄谱、角分辨XPS、XPI化学态成像、离子散射谱(ISS)、反射电子能量损失谱(REELS)、深度剖析及荷电中和系统；
2.具有双阳极XPS、紫外光电子能谱(UPS)、离子簇套件刻蚀枪(MAGCIS)等功能；
3.使用微聚焦Al Kα线(1486.6eV)单色化X射线源，束斑尺寸900~20μm可调，调节步长小于10μm；
4.X射线阳极靶具有20个以上靶点位置，保证X射线辐照的稳定的束流密度，确保仪器长时间稳定运行；
5.能量分辨率优于0.45eV，灵敏度优于2.5Mcps@1.0eV；
6.多通道光电倍增器+二维阵列探测器的双检测器系统，可实现空间分辨率< 3μm的并行化学态成像
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主要应用 |
多功能型X射线光电子能谱仪以XPS分析系统作为主机基本单元，可以兼容紫外光电子能谱（UPS）、离子散射谱（ISS）、无损深度分析等其它表面分析技术。适于各类具有粉末、薄膜、纤维和块体等不同形态的金属、非金属、半导体、氧化物和化合物、复合材料、纳米材料以及生物材料的表面几个原子层（1～10nm厚的表面）的化学组成、价态，深度剖析及成像、功函数特性等的分析与表征。
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样品要求 |
样品干燥，无磁性（有磁性需注明），样品不放出气体等；写清楚所有需要测试元素
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仪器说明 |
1. 检测器：采用级别最高、缺陷率最低的CCD芯片，具有灵敏度最高、动态范围最大和速度最快等特点。适合于测量要求苛刻的小分子晶体的衍射数据。
2. 光源：（1）Mo和Cu双光源，采用独立双X射线发生器，软件控制光源自动切换。（2）Enhance光源配有单导管光学部件 (Monocapillary Optic)，大大提高了作用在晶体样品上的X射线强度。（3）专利设计的Enhance光源，采用一体化光路设计，最大限度地减少了现场对光和更换X光管后光路校正的需求。
3. 测角仪： 4个角度都可以自由转动，是兼顾常规晶体结构分析和专业晶体学研究的唯一选择。
4. 系统控制和数据分析软件：CrysAlispro是一个功能强大的全自动软件，实现对仪器的控制、数据采集和处理。
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| 学习资料 |
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