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资产编号 |
S20090891 |
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仪器名称 |
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英文名称 |
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规格/型号
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Gemini E/Gemini E |
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生产厂商 |
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国别 |
英国 |
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所属单位 |
材料与化学工程学院>>化工楼103 |
放置地点 |
化工楼103(化工楼103) |
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使用日期 |
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电子邮箱 |
15738843023@qq.com |
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性能指标 |
1. EOS CCD 探测器；
2. 增强型Mo光源和增强型Cu光源；
3. 4圆 kappa 测角仪；
4. 低温冷却系统。
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主要应用 |
晶体结构或分子结构的常规测定（包括晶体的点阵常数，对称性，分子的三维立体结构，键长、键角、构型、构像及分子在晶格中的排列状况）；分子绝对构型和晶体绝对结构；测定精密电子密度测量；孪晶结构分析；本仪器附有液氮低温装置，可以在低温下收集参数，因此可以测定一些常温下易风化、易分解的晶体。
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样品要求 |
形成单晶
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仪器说明 |
1. 检测器：采用级别最高、缺陷率最低的CCD芯片，具有灵敏度最高、动态范围最大和速度最快等特点。适合于测量要求苛刻的小分子晶体的衍射数据。
2. 光源：（1）Mo和Cu双光源，采用独立双X射线发生器，软件控制光源自动切换。（2）Enhance光源配有单导管光学部件 (Monocapillary Optic)，大大提高了作用在晶体样品上的X射线强度。（3）专利设计的Enhance光源，采用一体化光路设计，最大限度地减少了现场对光和更换X光管后光路校正的需求。
3. 测角仪： 4个角度都可以自由转动，是兼顾常规晶体结构分析和专业晶体学研究的唯一选择。
4. 系统控制和数据分析软件：CrysAlispro是一个功能强大的全自动软件，实现对仪器的控制、数据采集和处理。
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| 学习资料 |
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